池田屋泰賽TESEC 熱阻測試機儀器 4602-LV 設計用于測量 GaN HEMT隨 VGS 的溫度變化 (ΔVGS) 的瞬態熱阻特性。 測量值 VGS1 和 ΔVGS 值顯示在前面板顯示屏上。 特點 ?測量結果顯示在前面板顯示屏上 ?可以顯示升高的溫度 ΔT 作為計算結果 ?熱阻Rth可顯示為計算結果 ?多重測試功能 ?60 可存儲測試程序 ?接觸檢查/開路，短路

原廠泰賽TESEC 熱阻測試機設備 4324-KT 設計用于測量 GaN HEMT隨 VGS 的溫度變化 (ΔVGS) 的瞬態熱阻特性。 測量值 VGS1 和 ΔVGS 值顯示在前面板顯示屏上。 特點 ?測量結果顯示在前面板顯示屏上 ?可以顯示升高的溫度 ΔT 作為計算結果 ?熱阻Rth可顯示為計算結果 ?多重測試功能 ?60 可存儲測試程序 ?接觸檢查/開路，短路

全新泰賽TESEC 熱阻測試機 4408-KT 設計用于測量 GaN HEMT隨 VGS 的溫度變化 (ΔVGS) 的瞬態熱阻特性。 測量值 VGS1 和 ΔVGS 值顯示在前面板顯示屏上。 特點 ?測量結果顯示在前面板顯示屏上 ?可以顯示升高的溫度 ΔT 作為計算結果 ?熱阻Rth可顯示為計算結果 ?多重測試功能 ?60 可存儲測試程序 ?接觸檢查/開路，短路