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原廠泰賽TESEC 熱阻測試機設備 4324-KT
設計用于測量 GaN HEMT隨 VGS 的溫度變化 (ΔVGS) 的瞬態熱阻特性。
測量值 VGS1 和 ΔVGS 值顯示在前面板顯示屏上。
特點
?測量結果顯示在前面板顯示屏上
?可以顯示升高的溫度 ΔT 作為計算結果
?熱阻Rth可顯示為計算結果
?多重測試功能
?60 可存儲測試程序
?接觸檢查/開路，短路檢查
?振蕩檢測
?可以通過 TESEC DC 測試儀控制操作
?門限電壓可設定，并配備器件過熱保護電路
?GP-IB/RS-232C 接口使外部設備能夠控制該測試儀
?可以連接功能檢查單元（4321-AB）（選項）
■ 可選軟件示例
?從 PC 控制測試儀的軟件
（測試程序創建、數據收集和計數器收集）
?使用功能檢查單元收集測量數據的軟件
| 項目 | 規格 |
漏極電流 (ID) | 00.01~20.00 A |
測量電流 (IM) | 000.1~999.9 mA |
柵極電壓 (VGS) | 00.1~10.0 V |
柵極限制電壓 (GATE-L) | 01.0~10.0 V |
通電時間 (PT)T | 100 微秒~30.0 秒 |
延遲時間 (DT) | 010~999 微秒 |
上限/下限 | 000.0~999.9 mV |
VDS | 01.0~70.0 V |
測量范圍 | VGS1 0000.0~2000.0 mV ΔVGS 0000.0~999.9 mV（分辨率 0.1 mV） |
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