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        • INTECS英特斯 UIH-1C 超高亮照明裝置燈

          INTECS英特斯 UIH-1C 超高亮照明裝置燈 高強度鹵素光源裝置 160;是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

          更新時間:2025-11-18

          廠商性質:經銷商

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        • INTECS英特斯 目視檢查超高亮照明裝置燈 UIH-2D

          INTECS英特斯 目視檢查超高亮照明裝置燈 UIH-2D 高強度鹵素光源裝置&amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;#160;是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

          更新時間:2025-11-18

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        • INTECS英特斯 UIH-3D 目視檢查超高亮照明設備燈

          INTECS英特斯 UIH-3D 目視檢查超高亮照明設備燈 高強度鹵素光源裝置&amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;#160;是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

          更新時間:2025-11-18

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        • INTECS英特斯 UIH-1H 霧度檢查照明設備燈

          INTECS英特斯 UIH-1H 霧度檢查照明設備燈 高強度鹵素光源裝置&amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;#160;是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

          更新時間:2025-11-18

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        • INTECS英特斯 晶圓截面形狀測定裝置燈 WEMS

          INTECS英特斯 晶圓截面形狀測定裝置燈 WEMS 高強度鹵素光源裝置&amp;amp;amp;amp;amp;#160;是一種宏觀觀察照明裝置,用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等,是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

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