有關(guān)長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)的其他信息

1、測(cè)長(zhǎng)機(jī)的使用方法

許多長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)中使用的臥式長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)由床身、在床身上移動(dòng)的內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)尺的滑架、觀察標(biāo)準(zhǔn)尺的千分尺顯微鏡以及施加恒定測(cè)量的裝置組成。它由放置在地面上的測(cè)量表面和支撐待測(cè)量物體的測(cè)量支架組成。已知該水平長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x具有滿足阿貝原理的結(jié)構(gòu)和滿足埃彭斯坦原理的結(jié)構(gòu)。

在滿足阿貝原理的結(jié)構(gòu)的臥式長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)中，可以忽略物體的測(cè)量軸線和標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，從而避免由于工件的不直線性而與滑架測(cè)量軸線的角度偏差而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。可以忽略床。通過(guò)將刻度平面放置在同一直線上來(lái)進(jìn)行測(cè)量。

另一方面，在具有滿足埃彭斯坦原理的結(jié)構(gòu)的臥式長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)中，為了消除由于床身不直而引起的測(cè)量誤差，測(cè)量被測(cè)體的測(cè)量軸與標(biāo)準(zhǔn)件之間的距離。分離是通過(guò)將物鏡的焦距配置為與標(biāo)準(zhǔn)刻度相等，并將透鏡的焦平面光學(xué)地放置在標(biāo)準(zhǔn)刻度上來(lái)進(jìn)行測(cè)量。

2、激光測(cè)長(zhǎng)機(jī)

激光測(cè)長(zhǎng)機(jī)用激光照射物體，利用反射光來(lái)測(cè)量物體的距離。激光長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)根據(jù)其測(cè)量的距離被稱為“位移傳感器"或“距離傳感器"。

位移傳感器

一種以微米為單位測(cè)量短距離（幾十毫米到幾百毫米）的長(zhǎng)度測(cè)量裝置。

距離傳感器

一種以毫米為單位測(cè)量長(zhǎng)距離（幾毫米到幾米）的長(zhǎng)度測(cè)量裝置。

上述長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)所使用的測(cè)量方法包括“三角測(cè)量法"和“飛行時(shí)間(ToF)法"。

三角測(cè)量法

這是一種利用基于反射光的三角測(cè)量原理的測(cè)量方法。長(zhǎng)度測(cè)量裝置由發(fā)光元件和光接收元件組成。使用半導(dǎo)體激光器作為發(fā)光元件。測(cè)量方法是將半導(dǎo)體激光器聚焦的激光通過(guò)投影透鏡照射到物體上。照射到物體上的激光的漫反射的一部分經(jīng)由受光透鏡在受光元件上形成光斑圖像。通過(guò)檢測(cè)和計(jì)算成像點(diǎn)的位置，可以測(cè)量物體的位移量。

注意，CMOS方法將CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)用于光電檢測(cè)器，并且CMOS方法將CCD(電荷耦合器件)用于光電檢測(cè)器被稱為CCD方法。

飛行時(shí)間 (ToF)

是一種通過(guò)測(cè)量照射光從物體反射并被接收器接收所需的時(shí)間來(lái)測(cè)量距離的方法。已知兩種已知的方法：利用發(fā)射光波長(zhǎng)和接收光波長(zhǎng)之間的相位差的“相位差距離法"，以及以固定脈沖投射激光的“脈沖傳播法"。寬度。 。